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用于α能谱测量的Si带电粒子辐射探测器

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用于α能谱测量的Si带电粒子辐射探测器

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    用于α能谱测量的Si带电粒子辐射探测器

    产品型号:

    简要描述:能谱学中见的应用领域是放射化学、保健物理和环境样品的筛查

    • 厂家实力

      Manufacturer Strength
    • 有效保修

      Valid Warranty
    • 质量保障

      Quality Assurance

    产品中心

    PRODUCT CATEGORY

    详细介绍

    α能谱学中见的应用领域是放射化学、保健物理和环境样品的筛查。这些应用的硅辐射探测器是耗尽深度≥100微米的ULTRA辐射探测器和具有超低背景的ULTRA-AS辐射探测器。

    此外,许多设施继续使用具有低背景又不透光的加固(R系列)面垒型辐射探测器。“SEE-NO-ALPHA”选件可提供保证的分辨率规格,并且未暴露于α源可防止反散射污染。

    *所有分辨率测量均在21±1°C下执行和保证。

    **用5.486-MeV天然α粒子测量。

    † ULTRA系列探测器采用离子注入二氧化硅钝化技术制造。可为特殊订单提供允许在200°C下烘烤的版本。

    ULTRA†

    ULTRA AS†

    主要应用

    高分辨率、高效率的α和β能谱测量

    超低本底的高效α能谱测量

    主要特点/优点

    • 使用超薄接触级,提供能量分辨率
    • 通过特设间距实现高效率
    • 采用表面钝化技术保证器件稳定性
    • 超长寿命的镀金防护
    • 高品质和可靠性
    • 使用超薄接触级,提供能量分辨率
    • 通过特设间距实现高效率
    • 采用表面钝化技术保证器件稳定性
    • 超长寿命的镀金防护
    • 高品质和可靠性

    起始材料

    Si

    Si

    有效面积范围 (mm2)

    25-3000

    300–1200

    有效厚度范围 (µm)

    100-500

    100

    保证工作温度范围*

    +50°C 至
    –30°C

    +50°C 至
    –30°C

    二极管结构

    注入硼 - N型Si作为部分耗尽注入

    注入硼 - N型Si作为部分耗尽注入

    名义当量 ** 窗口的截止能量

    入射
    500 Å Si

    入射
    500 Å Si

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